报告题目：高速高性能数据采集系统介绍和应用

　　报告人： Dr. Peter Grudberg, 美国XIA工厂

　　时间：2019年6月14日（星期五）10:00-12:00

　　地点：近代物理所5号楼911会议室

　　交流会摘要：

　　本次交流会将介绍美国XIA工厂的高速高性能数据采集系统的产品和应用。XIA的数据采集卡可以将来自HPGe、闪烁体、硅探测器、中子探测器等几乎任何探测器的输入信号快速数字化，具有全数字触发滤波、能量滤波、堆积检测等功能。内置FPGA和DSP固件，用于脉冲高度重建、脉冲波形分析和MCA直方图生成。这些模块可以组合成庞大的数据采集系统，采集分布式定时和触发信号，进行时间符合和能谱测量。XIA的许多产品都可以定制特殊的固件，以支持最终用户的应用需求。

　　主要介绍的产品有：

　　台式数字化仪：独立的网络连接的多路数字化仪，基于嵌入式，FPGA/ARM/ LINUX系统，允许用户定制。

　　插件式数据采集卡：PXI/PXIe总线，方便建立中大型数据获取系统。

　　嵌入式数据采集卡：体积小、功耗低、性能高，嵌入各种检测设备。

　　X射线谱仪：适用于单探头或多条SDD、HPGe等X射线探测器，应用于世界上多个同步辐射加速器中。

　　届时会有实物的现场演示。